Forschung
FÜR MESSUNGEN AN GROSSEN UND KLEINEN ELEKTRONIKBAUTEILEN
Im Gegensatz zu Thermoelementen oder Punkt-Pyrometern lassen sich mit FLIR-IR-Kameras präzise Messungen sowohl an großen Zielobjekten als auch an den heutzutage gängigen Mikroelektronikbauteilen ausführen.
EMPFINDLICHKEIT, GESCHWINDIGKEIT UND RÄUMLICHE AUFLÖSUNG
FLIR-IR-Kameras nehmen High-Speed-Daten mit der Empfindlichkeit und räumlichen Auflösung auf, die Sie benötigen, um die transienten thermischen Eigenschaften von sich schnell erwärmenden oder abkühlenden Zielobjekten zu beschreiben.
ANALYSIEREN SIE IHRE DATEN NACH IHREN ANFORDERUNGEN
Ganz gleich, ob Sie diese an die FLIR-ResearchIR-Software streamen oder SDK-Lösungen bevorzugen, die FLIR Wärmebilddaten helfen Ihnen dabei, Designfehler und teure Produktrückrufe zu vermeiden.
Mithilfe der Infrarotbildgebung können Probleme aufgespürt werden, die früher gar nicht oder nur unter großem Zeitaufwand gefunden werden konnten. Hersteller erhalten Wärmebilder, auf denen sich Designfehler genau nachweisen lassen, und können so Testzeiten reduzieren und Produkte schneller auf den Markt bringen. Wärmebilder bieten Ingenieuren außerdem den Vorteil einer vollständigen Wärmekarte der Platine mit Temperaturwerten für jeden Pixel. Das Problem falsch installierter Thermoelemente oder RTD-Sonden, die fehlerhafte Werte liefern, ergibt sich erst gar nicht. Wärmebilder lassen klar erkennen, wo sich Hotspots auf einer Platine befinden.
Natürlich sind Wärmebilder neben der einfachen Untersuchung von Platinen in vielen Phasen des Forschungs- und Entwicklungsprozesses einsetzbar.
Datenblätter und Broschüren
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